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半导体参数测试仪:,四探针测试仪,电阻率测试仪,导电类型鉴定…
江苏省苏州市吴中区苏州市吴中区新家工业区新门路18号
SZT-C型快速恒压四探针测试台
产品介绍
图1.1 SZT-C型测试台结构示意图
SZT-C型快速恒压四探针测试台,主要有载物台(180mmX180mm净载物面结)、双轨垂直导向单元、测试压力调节单元、探头快速升降扳手(顶部戴红套部分)、探头连接板等单元!
二、使用方法
2.1放置样品:将测试台上部操作扳手向上向后、向上升起测试台探头,如图1.1,将样品放在探头下方测试台板上,然后将测试台上部操作扳手向前向下,压下探头。如图1.2!
2.2压力调整:在探头压下的状态下,可根据样品厚度及压力要求,调节测试台导轨支架中部螺杆上的螺母(先松**紧螺帽),观察探头探针压下程度,调节测试压力!(弹簧压缩量0~20mm,探针缩进量0~4mm,对应探头压力0~2.0K公斤),调好后,锁紧锁紧螺帽。
如图 2.1
图2.1 测试压力调整螺母示意图
五、客服热线:400-635-7098 :2851706351丁先生
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